美光美国爱达荷州博伊西当地时间 22 日宣布推出拥有在耐辐射 SLC NAND 领域最高 256Gb 容量的闪存。这不仅是随着发射任务的不断增长，太空经济正在飞速发展，而美光此次推出的耐辐射 256Gb SLC NAND

　　扩展的质量和性能测试，按照 NASA 的 PEM-INST-001 二级流程对组件进行为期一年的筛选，测试内容包括极端温度循环、缺陷检查、590 小时动态老化；针对总电离剂量的辐射表征测试，根据美国军方标准 MIL-STD-883 TM1019 condition D 评估产品在轨正常运行期间累计可吸收伽马辐射剂量，数据可用于确认适用的任务生命周期。针对单粒子事件效应的辐射表征测试，依照 JEDEC JESD57 和美国材料与试验协会 的 F1192 标准评估高能粒子对半导体的影响，验证组件是否可在恶劣辐射环境中安全可靠运行。